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BGA双头针用于IC的BGA封装测试,任何规格可订做.

双头针,BGA双头针用于IC的BGA封装测试,任何规格可订做.

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  • 发布日期: 2012年03月02日
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双头高频探针,两头都能活动,简称双头针,不同于传统探针,它是一种高性能,高频率的带弹簧接触部件。能满足更高精度和频率测试需要。
双头针只有一个内部接触面,通过减小大小和长度,这样不仅可以最大化内部电阻的重复性(即双头针测试频率高),同时也提高了测试的精度。BGA双头针是测试座生产商的首选,用于集成在测试座里进行半导体测试(功能测试,变量测试),双头针在测试轨道上是透明的,并且能维持低且持续的接触电阻。

 
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