DDR2-800M Hz X8单面老化座内存条测试治具

产品特点及性能参数：

◆采用顶窗式结构，操作方便；

◆IC压板下压平稳；

◆限位框如需多购买￥268一个

◆高精度的定位槽，保证IC定位精确，测试效率高；

◆测试准确性高，大大减少误判率；      

◆测试频率可达800M Hz；

◆可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具

◆可以免费提供相关的技术支持。

产品服务：

※ 半年免费保修（人为损坏除外）。
※ 保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※ 可以免费提供相关的技术支持。

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